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山東耐克特分析儀器有限公司
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NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀多少錢

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具體成交價以合同協議為準

產品型號

品       牌

廠商性質其他

所  在  地濟南市

更新時間:2026-04-06 12:31:26瀏覽次數:36次

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NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀,廣泛應用于新材料、制藥、生物工程、生命科學、化工、涂裝、食品安全等各領域中有機或無機納米乳液、粉末、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等樣品的粒度表征及樣品體系分散性和穩定性分析。

NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀

量程范圍:0.5nm-10000nm(與樣品有關)

外觀尺寸:440mm×245mm×228mm

產品特點:粒子與分子量                     光纖耦合半導體激光器                  高速數字相關器                  雙波長激光器一鍵切換                  ±0.1%高精度恒溫控制        HAMAMASTU光電倍增管



NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀概述Product Overview

NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀


NKT-N9系列納米粒度分析儀是專門用于表征納米顆粒粒度及分布的分析儀器。其基于動態光散射 (DLS)原理和光子相關光譜(PCS)技術,利用激光照射均勻分散于樣品池中的納米顆粒,探測光纖在90°角接收樣品顆粒因布朗運動而引起的強度隨時間漲落的動態散射光,并傳輸至光電倍增管(PMT), 將光信號轉換成離散的脈沖信號,再通過數字相關器進行自相關運算得出樣品的自相關曲線,結合數學方法得到顆粒的擴散系數,最后根據 Stokes-Einstein方程計算出被測樣品的粒度及分布。

適用范圍 Scope Of Application

NKT-N9激光粒度儀被廣泛應用于新材料、制藥、生物工程、生命科學、化工、涂裝、食品安全等各領域中有機或無機納米乳液、粉末、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等樣品的粒度表征及樣品體系分散性和穩定性分析。

產品參數 Product Parameters


測量原理

 動態光散射(DLS)、光子相關光譜法(PCS)、靜態光散射(SLS)

粒徑范圍

 0.5nm-10000nm(與樣品選件有關)

探測角度

 90o

測試參數

 粒度、分子量、第二微利系數

激  光  器

 集成恒溫系統大功率50mw,波長532nm或405固體激光器(可選)

相  關  器

 512物理通道,采樣時間0.1us-1ms動態可調

探  測  器

 光電倍增管(PMT)

濾波方式

 光陷阱濾波

準確度誤差

 優于±1%(平均粒徑,NIS可溯源標準樣品)

重復性誤差

 優于±1%(平均粒徑,NIS可溯源標準樣品)

樣  品  池

 12mm石英比色皿,1ml-4ml

測試濃度小范圍

 0.1mg/ml--40%w/v(與樣品選件有關)

分子量測試范圍

340 Da-2×107Da(與樣品選件有關)

測量速度

小于5分鐘/次

溫控范圍

 5℃-90℃

溫控精度

 ±0.1℃

光強調節范圍

 0 - 100%,自動調節

環境要求

 5°C-45°C,10%-85%相對濕度(無結凝)

工作電源

 AC100V-240V@50Hz-60Hz,DC12V/10A

外觀尺寸

 440mm×245mm×228mm

儀器重量

 9.5kg

執行范圍

 GB/T29022-2021/ISO22412-2017 GB/T19627-2005/ISO13320-1996


技術詳解 Technical Explanation

NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀 全光纖測試光路,造就高靈敏度

高性能低噪聲光纖耦合半導體激光器與全光纖動態散射光接收系統搭建的測試光路,采用低暗計數、高靈敏度的HAMAMASTU光電倍增管(PMT)作為光電探測器,使其整個測試系統具有高的靈敏度和信噪比,為測試準確度和高分辨率奠定了基礎。

NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀 高速數字相關器,成就高分辨率

自主研制的高速數字相關器作為核心器件用于信號處理,高速實時地采集動態散射光強并進行自相關運算,其具有識別6ns信號分辨能力、百兆級數據處理速度和高于1011線性動態范圍,確保全量程內不同大小顆粒自相關曲線的完整性。

NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀


NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀 全量程校準驗證,確保測試準確度

在全量程范圍內使用多種國家粒度標準物質進行校準驗證,其測試準確度誤差均小于1%(高于國家標準 GB/T29022-2021/ISO22412:2017要求)。

NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀 高精度恒溫控制

加持自動恒溫技術的半導體激光器確保激光輸出穩定可靠,高精度恒溫控制系統使樣品池中的被測樣品在整個測試過程中處于恒溫狀態,避免因溫度變化而引起介質粘度和顆粒布朗運動速度變化導致的測試偏差,從而保證了測試結果可靠性和穩定性。


NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀


客戶的同一樣品配制成6個待測樣品進行測試,其重復性誤差小于1% (高于國家標準 GB/T29022-2021/ISO22412:2017要求).

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